用途：HemiView数字植物冠层分析系统通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等。

HemiView数字植物冠层分析系统原理：使用180度鱼眼镜头和高清晰度数码相机从植物冠层下方或森林地面向上取像, 再将数码相机的高清晰度影像载入软件，进行分析处理。

技术规格：

输出参数：

·天(tian)空(kong)几何(he)：质心，立体角和像素(su)计算(suan)用于每(mei)个天(tian)空(kong)扇区；

·间隙粒级：比例的可见天空扇(shan)区；

·叶(ye)面积指数：天(tian)空扇区(qu)或全部数值；

·太阳辐射(she)：直射(she)和散射(she)，冠(guan)层上方(fang)和下方(fang)，能量(liang)或(huo)质量(liang)单位；

·位置因(yin)数：直接，间接（散射），全部；

·时(shi)间序列和Sunflecks：可(ke)查看日期的日盘(pan)（半(ban)阴影作用）和太(tai)阳辐射(she)，用户自定义的采样间隔时(shi)间或sunfleck顺序

·可选(xuan)余弦修正：可用任(ren)何(he)方位的截取表面；

·全(quan)部数(shu)值(zhi)：大部分输出能将天(tian)空扇区表格(ge)化(hua)，集合到单个全(quan)天(tian)空或(huo)年数(shu)值(zhi)中(zhong)。

特点：

·交(jiao)互式图示定(ding)位工具：记(ji)录的图像(xiang)半球纵坐标系统。补(bu)偿(chang)磁场偏差；

·支(zhi)持(chi)图像分类：强度(du)区(qu)分界限和干扰像素。图像按照实时更新分类；

·图(tu)像可多(duo)重和拆分(fen)查看：分(fen)类和色彩/灰色等比率查看，或将(jiang)整幅图(tu)像拆分(fen)开浏览；

·图像底片：图像可(ke)转换为底片模式(shi)进行(xing)查看和分(fen)析(xi)；

·可(ke)给不同的天(tian)空区域定(ding)义(yi)号码：天(tian)顶(ding)角(jiao)和方位角(jiao)定(ding)义(yi)范围(wei)；

·单个(ge)树(shu)的叶面积(ji)：直(zhi)接可通(tong)过(guo)HemiView输出单个(ge)树(shu)的LAI；

·分(fen)析局(ju)部图(tu)像：可以将(jiang)图(tu)像中不需要参与分(fen)析的部分(fen)排除；

·地(di)点(dian)，镜(jing)(jing)头(tou)和(he)太(tai)阳模(mo)型(xing)的(de)参数：用户可设定地(di)点(dian)，镜(jing)(jing)头(tou)和(he)太(tai)阳模(mo)式应用到任何一个图像中(zhong)，方便从列表(biao)中(zhong)选(xuan)择；

·定义镜头的(de)特(te)点：镜头方程是当(dang)(dang)用户使用了当(dang)(dang)前镜头和老(lao)款类型提供的(de)ΔT；

·输出：分析(xi)结果(guo)可输出为Excel兼容表格格式(shi)(shi)或文(wen)本格式(shi)(shi)；

·自定义输出参数(shu)：用户(hu)可根据(ju)不(bu)(bu)同的图像定义不(bu)(bu)同的输出参数(shu)。

时间序列计算光(guang)照示例(li)图

产地：英国